Наверх
Обратно
8 800 250-06-18
Менюx
КорзинаАвторизоватьсяНаши магазиныПомощь
Моя корзина: нет товаровx
Нет товаров
Оплата и доставка
x
Ваш город: Судоверфь, вам доступны способы доставки:
  • отправка Почтой РФ (от 200 руб)
Вам доступны способы оплаты:
  • при получении заказа
  • предоплата: банковские карты, терминалы оплаты и многое другое
  • банковский перевод для физ. лиц
  • банковский перевод для юр. лиц
Авторизоваться
Судоверфь
x
Выбор города

Ваш город: Судоверфь ?

Ваш город: Судоверфьизменить )
Пункты самовывоза
Вам нравится эта книга?  
Авторизуйтесь или зарегистрируйтесьна сайте, чтобы получить доступ к уникальному рекомендательному сервису «Буквоеда»
Авторизуйтесь или зарегистрируйтесьна сайте, чтобы получить доступ к уникальному рекомендательному сервису «Буквоеда»
Авторизуйтесь или зарегистрируйтесьна сайте, чтобы получить доступ к уникальному рекомендательному сервису «Буквоеда»

In Situ Testing of Thin-Film Multi Junction Photovoltaic Degradation
Gy Rgy Szentannai, Gyorgy Szentannai

Вы можете заказать:
Подробнее о технологии 
Экономьте до 30% с бонусными баллами! При покупке вы получите
от 379 баллов
на свой бонусный счёт. Получить баллы и скидку
Вам доступны способы доставки:
  • отправка Почтой РФ (от 200 руб)
Способы оплаты

Описание

Crystalline silicon photovoltaics ("PV") have higher efficiency than amorphous thin film PV. On the other hand amorphous silicon PV has many advantages: cheaper production (1/1000 less raw material used in manufacture); much lower manufacturing temperature (200 °C/800-1000 °C), much shorter environmental pay-back time in the sense of investigated and gathered CO2 emission; and significant efficiency advantages on cloudy days. There are intensive research and development efforts to understand the Stabler-Wronsky effect (which was first reported more than 40 years ago) more accurately in order to better exploit the advantages of amorphous silicon PV. These advantages force producers to develop different types, in different combinations, such as multi-junction PVs. It is important for implementing companies and consumers to know the real degradation time and percentage in practice, rather than just under laboratory conditions. The real performance and degradation of newly implemented micromorph cells were tested at private houses in different locations. Their productivity was economically compared with that of a hetero-junction cell.
далее Читать
Свернуть
   Читать далее
Год:2012
Страниц:76
ISBN:9783659165603
Формат:22.9cm x 15.2cm x 0.4cm
Код:pod 6051255
Авторы:Gy, Gyorgy, Rgy, Szentannai, Szentannai
Тематика:Физика и математика

Мнения и отзывы

Авторизуйтесь или зарегистрируйтесь на сайте, чтобы оставить отзыв и получить возможность заработать 15 бонусных баллов в бонусной программе
Оставить отзыв
Спасибо
за отзыв!
Отслеживать статус можно в
«Ваших отзывах».
Оставить отзыв
In Situ Testing of Thin-Film Multi Junction Photovoltaic Degradation
In Situ Testing of Thin-Film Multi Junction Photovoltaic Degradation
Gy Rgy Szentannai, Gyorgy Szentannai
 
Авторизуйтесь, чтобы оставить свой отзыв о товаре
Общее впечатление
Вам нравится эта книга?  
Авторизуйтесь или зарегистрируйтесьна сайте, чтобы получить доступ к уникальному рекомендательному сервису «Буквоеда»
Авторизуйтесь или зарегистрируйтесьна сайте, чтобы получить доступ к уникальному рекомендательному сервису «Буквоеда»
Авторизуйтесь или зарегистрируйтесьна сайте, чтобы получить доступ к уникальному рекомендательному сервису «Буквоеда»
0 букв

Отзыв длиной более 500 букв, который будет принят модератором, принесет вам 15 баллов для участия в нашей бонусной программе!

Отзыв должен быть уникальным и содержательным: нельзя копировать отзывы, мнения и информацию с других сайтов.

Не содержать нецензурную брань.

Отзыв должен относиться к товару, на который он написан.

Без спойлеров.

Мы не рекомендуем пересказ аннотации или содержания.

Нельзя указывать ссылки на сторонние ресурсы и email адреса

Назад к написанию отзыва
×

С товаром «In Situ Testing of Thin-Film Multi Junction Photovoltaic Degradation» часто покупают

x

Если Вы обнаружили ошибку в описании товара «In Situ Testing of Thin-Film Multi Junction Photovoltaic Degradation» Gy Rgy Szentannai, Gyorgy Szentannai, выделите её мышкой и нажмите: Ctrl+Enter. Спасибо!

©2006-2018, ООО «Буквоед»
8 800 250-06-18

Спасибо за ваше обращение.
Его номер - .

Ответ будет направлен на указанную почту в ближайшее время.

x
x