Нет отзывов
Аннотация
| Издательство | |
|---|---|
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Страниц | 215 |
| Год, тираж | 2011, 400 экз. |
Не в наличии
Отзывы
0Описание и характеристики
Рассмотрены основные положения фишки рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов.
.Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям.
.
| Код | 2378287 |
|---|---|
| Издательство | |
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Кол-во страниц | 215 |
| Год издания | 2011 |
| Тираж | 400 экз. |
| ISBN | 978-985-06-1834-4 |
| Раздел | Химия |
| Размеры | 1.2 см × 13.6 см × 20.7 см |
| Вес | 0.27 кг |