Нет отзывов
Аннотация
| Издательство | |
|---|---|
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Страниц | 248 |
| Год, тираж | 2017 |
1 599 ₽1 887 ₽
-15%
Осталось мало
как получить заказ
В магазинах сетиВ пн, 17 ноября — бесплатно
- В пунктах выдачиВо вт, 18 ноября — бесплатно
- КурьеромВо вт, 18 ноября — бесплатно
- Почтой РоссииВ ср, 19 ноября — от 549 ₽
Отзывы
0Описание и характеристики
Пособие посвящено описанию теоретических основ и методических подходов к исследованию систем пониженной размерности посредством инфракрасной спектроскопии.
.Для студентов и аспирантов, специализирующихся в области физики полупроводников, оптики твердого тела и оптических методов исследования новых материалов, а также для дополнительного обучения в рамках физико-химических, материаловедческих специальностей и специализаций, связанных с оптическими методами анализа низкоразмерных структур.
| Код | 2576045 |
|---|---|
| Издательство | |
| Автор | |
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Кол-во страниц | 248 |
| Год издания | 2017 |
| Раздел | Физика. Механика |
| Размеры | 1.3 см × 13.3 см × 20.5 см |
| Вес | 0.3 кг |