Нет отзывов
Купили 4 человека
Аннотация
| Издательство | |
|---|---|
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Страниц | 224 |
| Год, тираж | 2010 |
Не в наличии
Отзывы
0Описание и характеристики
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов, качества изготовленных их них материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
.
.
.Для студентов, аспирантов и преподавателей технических вузов.
| Код | 2259138 |
|---|---|
| Издательство | |
| Автор | |
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Кол-во страниц | 224 |
| Год издания | 2010 |
| ISBN | 978-5-9765-0207-9 |
| Раздел | Общие вопросы медицины |
| Размеры | 1.5 см × 15 см × 21 см |
| Вес | 0.33 кг |