Нет отзывов
Купил 1 человек
Аннотация
| Издательство | |
|---|---|
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Страниц | 108 |
| Год, тираж | 2024 |
1 599 ₽1 887 ₽
-15%
Осталось мало
как получить заказ
В магазинах сетиВ ср, 18 марта — бесплатно
- В пунктах выдачиВ чт, 19 марта — бесплатно
- КурьеромВ чт, 19 марта — бесплатно
- Почтой РоссииВ пт, 20 марта — от 549 ₽
Отзывы
0Описание и характеристики
Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа, ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях.
Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим наноустройства.
Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим наноустройства.
| Код | 3006869 |
|---|---|
| Издательство | |
| Автор | |
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Кол-во страниц | 108 |
| Год издания | 2024 |
| ISBN | 978-5-9729-1731-0 |
| Раздел | Автоматика. Радиоэлектроника. Связь |
| Размеры | 1 см × 15.4 см × 21.7 см |
| Вес | 0.24 кг |