Нет отзывов
Купили 8 человек
Аннотация
| Издательство | |
|---|---|
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Страниц | 712 |
| Год, тираж | 2020, 1 000 экз. |
2 099 ₽2 477 ₽
-15%
Последний экземпляр
как получить заказ
В магазинах сетиВ пн, 30 марта — бесплатно
- В пунктах выдачиВо вт, 31 марта — бесплатно
- КурьеромВо вт, 31 марта — бесплатно
- Почтой РоссииВ ср, 1 апреля — от 659 ₽
Получить сегодня
Нет в наличии, но есть в 1 магазине в других городах, 2 099 ₽
Отзывы
0Описание и характеристики
Книга посвящена современным методам микроскопии, технике измерений и литографии на наномасштабе. В книге рассмотрены основные экспериментальные методы конфокальной оптической микроскопии, ближнепольной оптической микроскопии, зондовой микроскопии, ионной и электронной микроскопии, рентгеновской спектроскопии, зондовой и электронной литографии и др. В книге изложены основные принципы работы методов микроскопии, области их применения, приведены многочисленные примеры их использования. Разделы книги написаны и переведены учеными с мировым именем - ведущими специалистами в области микроскопии и нанотехнологии.
Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией.
Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией.
| Код | 2780670 |
|---|---|
| Издательство | |
| Автор | |
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Кол-во страниц | 712 |
| Год издания | 2020 |
| Тираж | 1 000 экз. |
| ISBN | 978-5-91522-232-7 |
| Раздел | Физика. Механика |
| Размеры | 3.5 см × 20 см × 26.7 см |
| Вес | 1.36 кг |