1 отзыв
Купили 13 человек
Аннотация
| Серия | Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники |
|---|---|
| Издательство | |
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Страниц | 616 |
| Год, тираж | 2020 |
1 099 ₽1 297 ₽
-15%
Последний экземпляр
как получить заказ
В магазинах сетиВ пн, 30 марта — бесплатно
- В пунктах выдачиВо вт, 31 марта — от 304 ₽
- КурьеромВо вт, 31 марта — от 316 ₽
- Почтой РоссииВ ср, 1 апреля — от 619 ₽
Отзывы
1
Антон Станиславский
1 год назад
Описание и характеристики
Учебник "Статистическая механика: энтропия, параметры порядка и сложность", написан профессором Корнелльского университета (США) Джеймсом Сетной и был впервые издан на английском языке в 2006 году издательством Оксфордского университета. За прошедшие годы он приобрел большую популярность не только у студентов-физиков, но и у студентов смежных специальностей - химиков, математиков, биологов и биофизиков. Эта популярность вполне заслужена: учебник написан живым и понятным языком, при этом автор излагает доступным образом не только фундаментальные концепции и методологию современной статистической механики, но и их связь с теорией динамических систем, квантовой теорией, теорией информации, современной химией и биологией, основополагающими проблемами финансовой математики.
| Код | 2777539 |
|---|---|
| Издательство | |
| Серия | Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники |
| Переводчик | , |
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Кол-во страниц | 616 |
| Год издания | 2020 |
| ISBN | 9000027775395 |
| Раздел | Физика. Механика |
| Размеры | 3.4 см × 17 см × 24.3 см |
| Вес | 1.02 кг |